首页
关于我们
公司简介
企业文化
研发团队
科研成果
新闻中心
企业动态
行业资讯
产品中心
产品列表
研发团队
研发团队
科研成果
资质荣誉
工程案例
设备实景
联系我们
在线反馈
热搜产品
SY2020 探针台测试系统
SN2500 高真空热蒸发镀膜系统
TM3000 超高真空热蒸发镀膜系统
DaLI无掩膜纳米光刻机
Tweez300光学镊子
CALM-1064A 激光冷原子捕获操控系统
产品中心
产品列表
首页
产品中心
产品列表
产品介绍
SKN-SY200半导体参数测试仪可支持高精度IV和IT测量及脉冲测量。
它采用WIndows做操作系统,方便用户自动化测试编程。
可用于忆阻器、晶体管、传感器、太阳能电池等器件的性能研究。
上一篇:
ICP感应耦合离子刻蚀系列机台
To Top